nikon-metrology-xray-ct-computed-tomogra

XT H 225 ST  Industriell CT-Scanning

Nikons  XTH225ST XT H 225 ST är ett CT-system (Computed Tomography) som är idealiskt för ett brett spektrum av material och provstorlekar, särskilt de som är för stora eller tunga för andra system i vår portfölj.

Systemet har tre utbytbara källor; 225 kV reflectiontarget, 180 kV transmissiontarget och 225 kV rotary target.

I kombination med det breda utbudet av detektorer att välja mellan, erbjuder ST-systemet ett flexibelt verktyg för kvalitetslaboratorier, produktionsanläggningar och forskningsavdelningar.

Fördelar:

Unik 225 kV röntgenkälla med mikrofokus och 3 µm spotstorlek.

Enkel systemdrift och låg ägandekostnad

Fantastiska bilder som ger stor insikt

Högpresterande bildupptagning och volymbehandling

Enkel inspektionsautomatisering

Säkerheten först

Applikationer

Feldetektering och felanalys Monteringskontroll av komplexa ihopmonterade produkter

Dimensionsmätning av interna komponenter

Jämförelse mellan Part och CAD

Avancerad materialforskning

Analys av de biologiska strukturerna

Digital arkivering av modeller

Konfigurera systemet som matchar just era behov.

Specifika applikationer kan kräva högre upplösning eller högre noggrannhet. XT H 225 kan konfigureras med olika detektorer (Varian, Perkin Elmer) eller olika källor (reflektion eller transmissions mål) för att matcha just era behov.

XT H 225ST är en förlängd version som kan hantera större artiklar upp till 50kg med en diameter på ca 50cm.

Specifikationer

Microfocus source                                        Max. kV          Max. power           Focal spot size              Focal spot size              

180 kV Transmission target                          180 kV                 20 W               1 µm up to 3 W               20 µm at 20 W  

225 kV Reflection target                                225 kV               225 W               3 µm up to 7 W             225 µm at 225 W

225 kV Rotating target option                      225 kV               450 W              10 µm up to 30 W          160 µm at 450 W

Detectors                                # Bits          Active pixels              Pixel Size             Max. frame rate at 1x1 binning     Max.  frame rate at  2x2 binning

Varex 4343                              16-bit           2880x2880                 150 µm                                     15 fps                                                  30 fps  

Perkin Elmer 1611                 16-bit           4000 x 4000               100 µm                                  3.75 fps                                                 7.5 fps

Perkin Elmer 1620                 16-bit           2000 x 2000               200 µm                                  3.75 fps                                                 7.5 fps

Perking Elmer 1621 EHS       16-bit           2000 x 2000               200 µm                                     15 fps                                                  30 fps


Manipulator                                   5- axlar

Mätområde

(Typiska värden - Exakta värden beror på systemkonfiguration)

(X) 450 mm
(Y) 350 mm
(Z) 725 mm
(Tilt) +/- 30
(Rotation) n*360°

Max. detalj vikt : 50 kg

Generell information                  

Kabinettets dimensioner (LxBxH) 1,830 mm x 875 mm x 1,987 mm

Vikt : 2,400 kg

Säkerhet:  Alla system uppfyller reglemente: IRR99

Control software All systems are controlled by Nikon Metrology’s in-house Inspect-X software