LK Scandinavia AB
XT H 225 för en allsidig röntgen- och CT-inspektion
Ingångsnivån XTH 160 och de mångsidiga XT H 225-systemen erbjuder en mikrofokusröntgenkälla, en stor inspektionsvolym, hög bildupplösning och är redo för ultrasnabb CT-rekonstruktion.
De täcker ett brett spektrum av applikationer, inklusive inspektion av plastdelar, små gjutgods och komplexa mekanismer samt forskningsmaterial och naturliga prover.
Fördelar:
Unik 225 kV röntgenkälla med mikrofokus och 3 µm spotstorlek.
Enkel systemdrift och låg ägandekostnad
Fantastiska bilder som ger stor insikt
Högpresterande bildupptagning och volymbehandling
Enkel inspektion automatisering
Säkerheten först
Applikationer
Feldetektering och felanalys Monteringskontroll av komplexa ihopmonterade produkter
Dimensionsmätning av interna komponenter
Jämförelse mellan Part och CAD
Avancerad materialforskning
Analys av de biologiska strukturerna
Digital arkivering av modeller
Konfigurera systemet som matchar just era behov.
Specifika applikationer kan kräva högre upplösning eller högre noggrannhet. XT H 225 kan konfigureras med olika detektorer (Varian, Perkin Elmer) eller olika källor (reflektion eller transmissions mål) för att matcha just era behov.
XT H 225ST är en förlängd version som kan hantera större artiklar upp till 50kg med en diameter på ca 50cm.
Specifikationer
Microfocus source Max. kV Max. power Focal spot size Focal spot size
160 kV Reflection target 160 kV 225 W 3 µm upp till 7 W 225 µm at 225 W
180 kV Transmission target 180 kV 20 W 1 µm up to 3 W 20 µm at 20 W
225 kV Reflection target 225 kV 225 W 3 µm up to 7 W 225 µm at 225 W
Detectors # Bits Active pixels Pixel Size Max. frame rate at 1x1 binning Max. frame rate at 2x2 binning
Varian 1313Dx 16-bit 1000 x 1000 127 µm 30 fps 60 fps
Varian 2520Dx 16-bit 1900 x 1500 127 µm 12.5 fps 30 fps
Varex 4343 16-bit 2880x2880 150 µm 15 fps 30 fps
Perkin Elmer 0820 16-bit 1000 x 1000 200 µm 7.5 fps 15 fps
Manipulator XT H 160/ XT H 225
5- axlar
Mätområde
(Typiska värden - Exakta värden beror på systemkonfiguration)
(X) 185 mm
(Y) 250 mm
(Z) 625 mm
(Tilt) +/- 30
(Rotation) n*360°
Max. detalj vikt : 15 kg
Generell information
Kabinettets dimensioner (LxBxH) 1,830 mm x 875 mm x 1,987 mm
Vikt : 2,400 kg
Säkerhet: Alla system uppfyller reglemente: IRR99
Control software All systems are controlled by Nikon Metrology’s in-house Inspect-X software