nikon-metrology-xray-ct-computed-tomogra

XT H 450 Unik Mikrofokus Röntgen och CT för Turbinblad och Gjutna produkter.

XT H 450-systemet erbjuder den nödvändiga kraften för att penetrera detaljer med hög densitet och generera en scatter-fri CT-volym med mikronoggrannhet. Systemet finns med en platt panel eller en egen CLA-detektor (Curved Linear Array) som optimerar samlingen av röntgenstrålar utan att fånga de oönskade spridda röntgenstrålarna. Denna linjära detektor genererar fantastisk bildskärpa och kontrast genom att undvika bildföroreningar och tillhörande kontrastreducering. 450 kV och CLA är idealiska för inspektion av små till medelstora metalllegerade turbinblad och gjutna delar.

Fördelar:

Unik 450 kV röntgenkälla med mikrofokus.

Kan analysera extremt täta material i t.ex. turbinblad till hög noggrannhet.

Fantastiska bilder som ger stor insikt

Högpresterande bildupptagning och volymbehandling

Enkel inspektion automatisering

Säkerheten först

Applikationer

- Gjutna artiklar

- Turbinbladsinspektion

- Mikrofokuserande CT-inspektion av täta material

Jämförelse mellan Part och CAD

Avancerad materialforskning

Analys av de biologiska strukturerna

Digital arkivering av modeller

Konfigurera systemet som matchar just era behov.

Specifika applikationer kan kräva högre upplösning eller högre noggrannhet. XT H 450 kan konfigureras med olika detektorer (Varian, Perkin Elmer) eller olika källor (reflektion eller transmissions mål) för att matcha just era behov.

Specifikationer

Microfocus source                                        Max. kV          Max. power           Focal spot size                              Focal spot size              

450 kV Reflection target                                450 kV                450 W               80 µm up to 50 W                       320 µm  at 450 W

450 kV High brilliance source                       450 kV                450 W               80 µm up to 100 W                     113 µm at 450 W

Detectors                         # Bits          Active pixels              Pixel Size             Max. frame rate at 1x1 binning     Max.  frame rate at  2x2 binning

Perkin Elmer 1611          16-bit            4000 x 4000             100 µm                                    3.75 fps                                             7.5 fps

Perkin Elmer 1620          16-bit            2000 x 2000             200 µm                                    3.75 fps                                             7.5 fps

Perkin Elmer 1621 EHS  16-bit            2000 x 2000             200 µm                                       15 fps                                              30 fps

Nikon Metrology CLDA   16-bit                 2000                    415 µm                                        50 fps                                              50 fps

Combination PE162x & CLDA               Configuration med både Flat panel och Curved Linear Diode Array detector

Manipulator                                  4-axlar

Mätområde

(Typiska värden - Exakta värden beror på systemkonfiguration)

(X) 400 mm
(Y) 600 mm
(Z) 600 mm
(Tilt) +/- 30
(Rotation) n*360°

Max. detalj vikt : 100 kg

Generell information                  

Kabinettets dimensioner (LxBxH) 1,830 mm x 875 mm x 1,987 mm

Vikt : 2,400 kg

Säkerhet:  Alla system uppfyller reglemente: IRR99

Control software All systems are controlled by Nikon Metrology’s in-house Inspect-X software